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产品概览 PRODUCT OVERVIEW

光纤耦合探针台

盈波光电面向光通信器件、光电芯片、波导器件、探测器与封装前样品验证的综合测试平台。系统将显微观察、精密落针、光纤引光/收光、耦合对准与电学接口整合到同一工作站中，适合开展光电响应、耦合效率、通光状态和器件电学联测。

产品型号 YB-FC系列

所属分类 光纤耦合探针台

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详细介绍 PRODUCT DETAILS

光纤耦合探针台｜光电芯片耦合与电学联测平台

Fiber Coupling Probe Station · Optical-Electrical Test Platform

光纤耦合探针台

面向光通信器件、光电芯片、波导器件、探测器与封装前样品验证的综合测试平台。系统将显微观察、精密落针、光纤引光/收光、耦合对准与电学接口整合到同一工作站中，适合开展光电响应、耦合效率、通光状态和器件电学联测。

光纤引光 / 收光显微观察 + 精密落针光电响应联测

光纤耦合显微落针光电联测

光纤耦合

输入、输出与收光模块可选

显微对准

样品、电极和耦合区同场观察

XYZ 微调

探针座和耦合夹具精密调整

定制接口

按光纤、器件和测试流程配置

Platform Logic

把光路对准、探针接触和器件响应测试整合到同一平台

光纤耦合探针台的核心不是“探针台加一根光纤”，而是围绕光电器件研发流程，将显微观察、光纤夹持、耦合调节、探针接触和电学/光学信号采集统一到同一测试工位。

01 / 光纤对准

耦合位置可视化调整

适合芯片端口、波导、光电器件入射/出射光路的调试。

02 / 显微落针

电极接触更直观

在显微视场下完成样品定位、探针落针和耦合区域观察。

03 / 光电联测

光输入与电响应同步

用于光电探测器、调制器、光通信器件的响应验证。

04 / 平台定制

围绕样品结构配置

按光纤类型、夹具方式、样品尺寸和测试流程进行模块化定制。

Image Modules

产品图片展示

整机图

IMAGE 01

整机展示

光纤夹具图

IMAGE 02

光纤夹具与耦合头

同场对准图

IMAGE 03

探针与光纤同场对准

Configuration

平台基础能力与可配模块

光纤耦合探针台通常按样品尺寸、光纤类型、耦合方式和测试仪器接口进行定制化配置。

平台定位	面向光纤引光、收光、光电响应与器件电学接触联用测试的探针台扩展平台。
显微观察	可配置单筒显微镜、体式显微镜、金相显微镜及 CCD/4K 成像系统，用于样品与耦合区观察。
样品固定	可采用真空吸附样品台，支持中心吸附孔、多圈吸附环及定制样品夹具。
探针系统	支持 XYZ 精密微调探针座，用于电极接触、偏置加载和电学信号引出。
光纤耦合模块	可围绕单模/多模光纤、光纤夹具、输入/输出耦合头、微调机构和收光结构进行专项定制。
电学接口	支持同轴线、三轴线、射频线及 BNC、三轴、香蕉头、鳄鱼夹、接线端子等接口形式。
适合输出结果	耦合效率验证、通光状态判断、光电响应测试、I-V 曲线、器件偏置响应、封装前研发验证。

Testing Workflow

光电耦合测试流程

1. 样品固定与显微定位

固定样品并在显微视场下找到器件端口与电极区域。

2. 光纤初始对准

调整光纤夹具或耦合头位置，建立输入/输出光路。

3. 探针落针与电连接

通过探针座完成电极接触，接入源表或参数分析仪。

4. 光电响应测试

采集耦合效率、通光状态、电流响应或器件工作曲线。

产品展示

光纤耦合探针台

光纤耦合探针台

把光路对准、探针接触和器件响应测试整合到同一平台

产品图片展示

整机展示

光纤夹具与耦合头

探针与光纤同场对准

平台基础能力与可配模块

光电耦合测试流程

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