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产品概览 PRODUCT OVERVIEW

微区透反射测量系统

盈波光电微区透反射测量系统是面向薄膜、微小样品及精细区域透射率与反射率分析的显微光谱平台。系统基于比例法测量原理，结合显微光学、稳定宽谱光源与自动平台控制，可实现微米级光斑下的快速、无损、高精度透反射测试与 Mapping 扫描。

产品型号 YB-MTR系列

所属分类 微区透反射测量系统

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详细介绍 PRODUCT DETAILS

微区透反射测量系统

MICRO TRANSMISSION & REFLECTANCE SYSTEM

微区透反射测量系统

面向薄膜、微小样品及精细区域透射率与反射率分析的显微光谱平台。系统基于比例法测量原理，结合显微光学、稳定宽谱光源与自动平台控制，可实现微米级光斑下的快速、无损、高精度透反射测试与 Mapping 扫描。

5 μm 微区光斑 400–2500 nm 宽谱方案 1 μm 平台精度

平台价值核心参数

系统要点

OVERVIEW

5 μm

显微测试光斑

2048 通道

探测器分辨基础

0.06 ms–65 s

曝光范围

X300 / Y300 / Z200

自动平台行程 mm

>99.9%

仪器重复性

0.5%

反射率精度

LIGHT SOURCE

卤钨 / 氙灯

宽谱连续输出，适配可见与近红外透反射测量

MAPPING

高光谱成像

自动平台联动采集，实现面扫描与空间分布分析

ANALYSIS

颜色与膜层

支持 XYZ / Lab / HSV、膜厚、均匀性等多维参数分析

INTEGRATION

SDK 可集成

USB / TTL / RS232 / 485，多模式采集与二次开发友好

图片展示

PRODUCT SHOW

IMAGE 01

整机与平台结构

IMAGE 02

显微观察与测量区域

IMAGE 03

软件界面

平台价值

针对薄膜、镀层、透明基底、微小器件以及颜色表征样品，微区透反射测量系统将显微观察、精密光谱采集和自动化扫描整合到同一平台，在研发验证、工艺分析和应用评估中具备较高实用价值。

VALUE PROPOSITION

微区定位下的高精度测量

在约 5 μm 光斑条件下实现微小区域透射率与反射率分析，适合细小样品、局部薄膜与微结构测量。

稳定光源与工业级重复性

系统强调光源稳定性与光谱重复性，适合长时间测量、对比实验及批量样品测试流程。

分析维度不止于透反射率

除透反射曲线外，还可扩展颜色参数、均匀性、膜厚及时序变化分析，更贴近应用测试需求。

核心参数

以下内容适合直接作为官网规格摘要区，后续也可替换为更完整参数表。

SPECIFICATIONS

系统能力

波长范围200–800 nm / 350–950 nm

最小分辨率0.2 nm

光斑大小约 5 μm

测量模式单次 / 连续 / 外部触发

平台与光学

物镜5× / 20× / 50× / 100×

运动平台X300 / Y300 / Z200 mm

平台精度X-Y 1 μm，重复定位 1 μm

照明接收90° 反射

稳定性与接口

仪器重复性>99.9%

反射率精度0.5%

连接方式USB / TTL / RS232 / 485

连续运行可连续 6 小时

APPLICATION 01

薄膜透反射表征

适合透明基底薄膜、自支撑薄膜、镀膜玻璃及局部镀层样品的透反射谱分析与对比。

APPLICATION 02

颜色与均匀性分析

通过 XYZ、Lab、HSV 等颜色空间参数，结合面扫描结果评估样品色差和分布均匀性。

APPLICATION 03

显微高光谱 Mapping

自动平台联动显微系统，适合微结构、药品颗粒、器件表面等空间分布的高光谱成像分析。

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微区透反射测量系统

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