产品展示

Product show

产品概览 PRODUCT OVERVIEW

共聚焦荧光寿命成像系统 FLIM

盈波光电共聚焦荧光寿命成像系统是面向活细胞、组织样品、材料发光与分子相互作用研究,集成共聚焦快速扫描、短脉冲激发、TCSPC 单光子计数与高灵敏探测,实现荧光/磷光寿命的二维与三维空间分布成像。
产品型号 YB-FLIM系列
所属分类 荧光寿命成像系统(FLIM)
详细介绍 PRODUCT DETAILS
共聚焦荧光寿命成像系统 FLIM
FLIM · Confocal Fluorescence Lifetime Imaging

共聚焦荧光寿命成像系统

面向活细胞、组织样品、材料发光与分子相互作用研究,集成共聚焦快速扫描、短脉冲激发、TCSPC 单光子计数与高灵敏探测,实现荧光/磷光寿命的二维与三维空间分布成像。

TCSPC 时间相关单光子计数          最快 1 μs/点扫描          多通道 FLIM / PLIM / FCS
共聚焦荧光寿命成像系统主图
系统主图预留位
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1 μs
最低点停留时间,适合快速寿命成像
2000×2000
最大像素扫描范围,可满足大视场成像
814 fs
时间通道宽度最小可达,支持高精度寿命分析
10 MHz
饱和计数率,适配高灵敏高速探测需求
System Architecture

模块化共聚焦寿命成像平台

系统由共聚焦扫描模块、短脉冲激发光源、TCSPC 采集模块、显微耦合光路和高速探测器组成,可与正置/倒置显微镜、不同波长激光器、多通道探测器及三维扫描模块组合。

短脉冲光源
375 / 405 / 488 / 532 / 785 nm 等可选
高速振镜扫描
逐点、逐行、逐帧扫描模式
TCSPC 计数
单通道或多通道采集
高灵敏探测器
400–1000 nm 响应范围可选
共聚焦荧光寿命成像系统结构示意图
光路 / 模块示意图预留位
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Core Advantages

面向科研场景的寿命成像能力

从普通宽场荧光升级到共聚焦扫描 FLIM,可获得与荧光团浓度弱相关的寿命信息,用于分析微环境、分子运动、相互作用和能量转移过程。

01

高灵敏寿命采集

采用时间相关单光子计数技术,支持寿命曲线拟合、像素级寿命图生成和多通道成像分析。

02

兼容主流显微镜

可与尼康、徕卡、蔡司、奥林巴斯等正置或倒置显微镜耦合,也可按现有显微平台升级。

03

多模式扩展

可扩展 FLIM、PLIM、FLITS、FCS、FCCS、Z 轴扫描、活细胞成像及多色通道寿命分析。

04

定制化集成

按样品类型、激发波长、探测通道、扫描速度、显微镜接口和软件分析需求进行系统集成。

Workflow

从激发到寿命图像的完整流程

系统将激发、扫描、光子计数、寿命拟合和图像输出串联成完整流程,便于科研用户快速获得可分析、可对比、可导出的寿命成像结果。

STEP 01
短脉冲激发
选择 375–785 nm 等激发波长
STEP 02
共聚焦扫描
逐点逐行或逐帧获取空间信息
STEP 03
TCSPC 计数
记录光子到达时间并形成衰减曲线
STEP 04
寿命拟合成像
输出寿命图、强度图和多通道分析结果
共聚焦荧光寿命成像系统 FLIM
模块化设计 · 短脉冲激发 · TCSPC 采集 · 共聚焦高速扫描 · 多通道寿命分析
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